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「ハイウエイテクノフェア2015」に出展致します 

2015年09月17日掲載 | 展示会

 KEYTECは、2015年11月25日(水)・26日(木)に東京ビックサイト西3・4ホールで開催されます「ハイウエイテクノフェア2015」に出展致します。  KEYTECブースでは,高性能コンパクト電磁波レーダ【ストラクチャスキャンSIR-EZ】シリーズをはじめ、今年7月に新しく発表しました完全非破壊鉄筋腐食探知器【iCOR】,衝撃弾性波シース管グラウト充填探査器【インパクトエコースキャナIES】などを出展し、実演を致します。ぜひこの機会にご来場下さい。 主な展示品 ■【ストラクチャスキャンSIR-EZ】シリーズオプション ・機能拡張ハンドル【EZ-Eハンドル】 ・GSSI純正エクステンションポール ・鉄筋径計測ソフトウェア【EZ-Raber】 ・舗装厚測定ソフトウェア【EZ-Pave】 ■電気化学的手法および衝撃弾性波法新製品 ・完全非破壊型鉄筋腐食探知器【iCOR】 ・スマート鉄筋腐食探知器【Xcell】 ・コンクリート表面電気抵抗率測定器【SURF】 ・コンクリート体積電気抵抗率測定器【RCON2】 ・コンクリート急速塩化物浸透性試験器【Perma2】 ・生コン電気抵抗率・温度測定器【Smart Box】 ・衝撃弾性波シース管グラウト充填探査器【IES】 ・衝撃弾性波コンクリート厚さ計【CTG2】

上記掲載されている内容は、発表日現在(2015年09月17日)の情報であり、ご覧になっている時点で、
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