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メンテナンス・レジリエンスTOKYO 2017「非破壊評価総合展」に出展いたします 

2017年07月13日掲載 | 展示会

非破壊評価総合展 KEYTEC 非破壊評価総合展 KEYTEC

KEYTEC株式会社は、2017年7月19日(水)~21日(金)に東京ビッグサイトで開催されるメンテナンス・レジリエンスTOKYO 2017「第8回 非破壊評価総合展」に出展します。

展示会:非破壊評価総合展2017(メンテナンス・レジリエンスTOKYO2017内)
日程:2017年7月19日(水)~21日(金)
会場:東京ビッグサイト東ホール
ブース:2C-37

本展示会では、

  • 進化し続ける多目的・多用途コンクリート探査レーダ「ストラクチャスキャン SIR-EZ XT
  • 完全非破壊で鉄筋腐食速度、電気抵抗率、自然電位を同時に測定可能な探知器「iCOR
  • 本展で初公開となる超コンパクト型地中レーダ「ユーティリティスキャン スマート
  • 展示会場のみ限定で先行公開される製品(ストラクチャスキャン SIR-EZ XTの新オプションユニット)
  • その他取扱い製品

以上の製品を展示・実演を行います。
是非、お手に取りその実力をご確認頂けるチャンスと存じます。

お客様のご来場を心よりお待ち申し上げております。

新製品情報動画 7月13日追加情報です。 ※音が出ます。ご注意ください。

展示会にあわせて特別価格キャンペーンを実施中!是非お気軽にお問合せください

非破壊評価総合展特別価格キャンペーン

キャンペーン期間:6月15日~8月末まで

キャンペーン期間:6月15日~12月22日まで

上記掲載されている内容は、発表日現在(2017年07月13日)の情報であり、ご覧になっている時点で、
予告なく情報が変更(販売の終了・価格・仕様の変更等)されている場合があります。